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Ce:Eu:SBN晶体的生长和全息存储性能研究  
Ce:Eu:SBN晶体的生长和全息存储性能研究
资料类型: PDF文件
关键词: Ce:Eu:SBN晶体  全息存储性能  位相共轭  
资料大小: 121K
所属学科: 分子表征
来源: 2004年第五届中国功能材料及其应用学术会议(9.12-9.16,北京.秦皇岛)
简介:
在SBN中掺进0.1%(质量分数)CeO2和0.1%(质量分数)Eu2O3,以Czochralski技术生长Ce:Eu:SBN晶体,在空气中退火24h,退火温度为1300℃。测试Ce:Eu:SBN晶体的位相共轭反射率和响应时间。Ce:Eu:SBN晶体最大位相共轭反射率(R=92%)和响应时间(38s),以Ce:Eu:SBN晶体作为存储元件和位相共轭镜(阈值,增益反馈系统)进行全息关联存储实验。系统具有实时处理、反复使用、成像质量好、信噪比高等优点。Ce:Eu:SBN晶体是比SBN晶体全息存储性能更好的晶体。
作者: 刘彩霞 徐朝鹏 徐玉恒
上传时间: 2007-07-09 11:37:30
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