|
|
| 用途 |
| 对含杂原子（碳、氢之外的原子）的高分子化合物或合成的高分子金属化合物，高分子－金属配合物，有时难以确定分子的化学结构，这时对化合物中化学键的表征，可以提供高分子化合物化学结构的信息。 |
| 表征方法及原理 |
（1）X－射线光电子能谱（XPS）表征高分子化学键
当一束单能量软X射线照射被测高聚物时，入射光子将把能量转移给高聚物分子中的电子，使电子脱离原子的束缚而逃离，将这些逃离电子称为光电子，测量这些光电子的动能分布情况，可以得到聚合物中高分子化学键的类型及变化情况，从而可推断高分子的化学结构。
（2）红外吸收光谱法（FTIR）
测定高分子化合物的吸收光谱，从中寻找各种化学键的吸收峰，推算化合物结构。 |
| 所用仪器 |
| X－射线光电子能谱（XPS）
红外吸收光谱（FTIR）
|
| 参考文献 |
| 1、“现代高分子物理学”（P.670），殷敬华、莫志深主编，科学出版社，2001年 |
|
