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Micro-Raman光谱鉴定碳化硅单晶的多型结构  
Micro-Raman光谱鉴定碳化硅单晶的多型结构
资料类型: PDF文件
关键词: 显微激光Raman光谱  X射线摇摆曲线  SiC单晶  多型鉴定  
资料大小: 148K
所属学科: 分子表征
来源: 来源网络
简介:
利用激光拉曼光谱仪测量了SiC单晶中不同多型的显微Raman光谱。在Raman光谱中,最大强度的FTA模和FTO模应出现在其简约波矢x等于该多型的六角度h处,据此对4H-SiC单晶中的多型进行了鉴定。同时采用高分辨X射线衍射测量了该晶片不同区域的摇摆曲线,将不同多型体的计算衍射角与实验值加以比较,对SiC晶片中的多型进行了标注,所得结论与激光Raman光谱测定结果相一致,说明Raman光谱是一种简单、快速地鉴定多型结构的强有力的工具。实验结果表明,在升华法生长4H-SiC单晶过程中,容易出现寄生6H、15R多型同4H多型的竞争生长,简单分析了寄生多型产生的原因。
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上传时间: 2007-07-06 11:59:29
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相关评论 共有3人发表评论 更多评论
jiangjingjing    2010-03-17 16:36:59
不知道粉体能不能测
mengming    2009-03-18 20:38:48
正要好好歇息拉曼呢
xingshi    2009-01-06 13:45:54
使用x-ray应该也可以测出来的吧
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