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高分子在界面上的构象行为 |
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| 资料类型： |
JPG图片格式
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| 关键词： |
高分子表征 石英晶体微天平 表面等离子体共振 固-液界面 高分子刷 |
| 资料大小： |
98KB |
| 所属学科： |
分子表征 |
| 来源： |
来源网络 |
| 简介： |
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界面上高分子的构象行为对于界面的物理和化学性质至关重要。目前，对于高分子在界面上的构象行为特别是动态行为的表征仍面临许多挑战。本文中，作者利用带有耗散测量功能的石英晶体微天平（QCM-D）和表面等离子体共振仪（SPR）等界面表征手段，对固体表面接枝中性高分子链、聚电解质链及两性聚电解质链的构象行为进行了系统研究。研究结果表明，QCM-D 的频率变化反映接枝高分子链的质量变化或接枝高分子层的厚度变化，而耗散因子变化则反映接枝高分子链的结构变化。SPR 共振单元变化与接枝高分子层的厚度和折光指数密切相关。此外，研究结果还表明，通过改变外界条件，如温度、溶剂、离子强度及离子种类等，可以调节高分子在界面上的构象行为，从而控制界面性质。 |
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| 上传人： |
liuyh
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| 上传时间： |
2013-11-20 17:09:03 |
| 下载次数： |
0 |
| 消耗积分： |
2
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