能够在一个一般性表面结构中识别所有单个原子（包括缺陷）的成像方法，对于材料分析将是非常有用的工具。Ondrej Krivanek及其同事已开发出这样一种方法。他们在一个为低电压操作进行了优化的经过像差校正的扫描透射电子显微镜中采用了“环形暗场”（ADF）成像。该方法能以原子分辨率成像，还能识别原子的化学类型。这个系统被用来检查单层的氮化硼，显示了三种类型的取代，涉及碳和氧杂质原子。对观测数据进行仔细分析，使研究人员能够构建原子结构的一个详图，并识别出四种不同类型的原子。本期封面所示为对氮化硼表面所作的离散傅里叶变换模拟，所观察到的取代杂质叠加在实验图像上。原子的代号为B红色、C黄色、N绿色和O蓝色。