（2014年5月14日，中国上海）全球材料表征领域的领先企业英国马尔文仪器公司，将亮相于5月19至22日在北京举办的第七届世界颗粒学大会（The 7th World Congress of Particle Technology，简称WCPT7）（马尔文展位号：18）。马尔文将在本次大会中展示公司引领业界的动态光散射（DLS）仪器系统ZetasizerNano ZSP，以及NanoSight NS300纳米颗粒跟踪分析仪。作为大会的主赞助商之一，马尔文还将针对颗粒表征领域的技术前沿在大会中发表独到见解。

    “世界颗粒学大会”是由美国、英国、德国、日本、澳大利亚等多国科学家联合发起的世界颗粒学研究及技术领域最主要的会议之一，自1990年开始举办，每四年举办一次，分别在欧洲/非洲、亚洲/澳洲、美洲三个地区轮流举办。第七届世界颗粒学大会将于本月在北京国际会议中心召开，本次会议为该系列会议首次在中国举办。

    马尔文中国区总经理秦和义表示：“在颗粒表征领域，马尔文在颗粒粒度、颗粒形状、Zeta电位、分子量、分子结构、流变特性以及化学成分的测量方面拥有丰富经验。世界颗粒大会是我们与业界分享成果，共同进步的理想平台。”

    马尔文公司本次带来两款颗粒表征领域的先进产品：动态光散射系统ZetasizerNano ZSP，以及NanoSight NS300纳米颗粒分析仪。

    马尔文ZetasizerNano是一系列设计紧凑的光散射仪器，其出众的性能和简便的操作使之在近十年来一直是工业和学术界的宠儿，这些优点在该系列最高规格产品ZetasizerNano ZSP上得到完美体现。马尔文ZetasizerNano ZSP独具蛋白质测量和微观流变学测量两项功能，可实现对各种粒度表征、蛋白质电泳迁移率、纳米颗粒及Zeta电位的测量，并拥有系列产品中最高的测量灵敏度。

    马尔文NanoSight NS300纳米颗粒分析仪采用独特的纳米颗粒跟踪分析技术（简称：NTA），可对10–2000nm 范围内的纳米颗粒进行快速实时动态检测，其测量的参数包括颗粒粒径、浓度、Zeta电位和颗粒的聚集。

    在本届世界颗粒学大会期间，三位来自马尔文公司的业界专家，包括全球大客户经理Steve Ward-Smith博士、应用经理Alan F. Rawle先生、以及产品经理宁辉先生，将发表相关学术文章，并做现场报告。

    “一直以来，马尔文仪器公司致力于将创新的技术与有力的服务支持相结合，确保分析仪器的精确性和效率，推动研发和生产的开展。从制药、蛋白质研究到涂料、油墨和印刷工业，马尔文先进的颗粒表征技术将确保各关键下游产业在颗粒参数的获取和控制中保持领先优势，”秦和义表示说。

    马尔文、马尔文仪器均为马尔文仪器有限公司的注册商标。

马尔文新型动态光散射系统Zetasizer Nano产品系列

马尔文NanoSight NS300纳米颗粒跟踪分析仪（专利可视化NTA技术）