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百学仪器论文资料库-X射线荧光光谱分析中基本参数的优化及其应用
 资料类型   PDF文档
 资料大小  70K
 类 别  通用分析仪器 --> 光谱仪 --> X荧光光谱(XRF)
 资料来源  百学仪器
 所属产品  手持式勘矿分析仪
 简 介  在现 代 X 射线荧光光谱定量分析中,为了对基体效应进行校正,普遍采用理论影响系数法。在理论影响系数计算中用到的基本参数有很多文献值,而且大多不够准确,从而影响理论影响系数计算的准确性和基体校正的完善性,并最终影响分析结果的准确性。
 上 传 人  苏州浪声科学仪器有限公司
 上传时间  2010-10-21 16:10:07
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