一种石墨烯纳米带的表面温度测试电路和测试方法-于伟

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一种石墨烯纳米带的表面温度测试电路和测试方法

发明/申请人：谢华清、陈立飞、于伟
专利号/申请号：ZL201310078393.3
授权/申请日期：2014-10-7
一种石墨烯纳米带的表面温度测试电路和测试方法。