近年来，作为常规示差扫描量热仪(DSC)技术的发展，商业化的快速扫描芯片量热技术(fast-scan chip-calorimeter, FSC)对推动高分子结晶学研究进展发挥了重要的作用． 本文首先介绍了闪速示差扫描量热仪Flash DSC的研发历程及其对高分子结晶样品的测试技术，然后举例介绍了其在高分子结晶和熔融行为研究中的一些应用，包括总结晶动力学、晶体成核动力学、成核剂和填料对结晶的影响、共聚单元对结晶的影响、多重熔融峰的鉴定、折叠链片晶的不可逆和可逆熔化、以及极性大分子晶体的熔融等． Flash DSC极大地扩展了扫描温度速率范围，使得其研究的时间窗口能与实际高分子材料加工过程和计算机分子模拟的时间窗口相互匹配，所提供的综合信息有助于我们更好地理解高分子结晶、退火和熔融行为的微观机理．