超支化聚合物是拓扑高分子的重要类型之一，相对于树状高分子，具有显著的合成便利性，但是分子内环化一直是其缺陷的重要形式。分子内环化和支化单元有着相同的化学键接，无法采用核磁、光谱或分子量的方法得出定量的数据，目前部分学者采用P. J. Flory（1974年Nobel化学奖得主）的转化率理论或基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱（(MALDI−TOF MS）进行定性表述，影响了拓扑高分子的精细合成的研究发展。
论文从超支化高分子的微观拓扑结构分析入手，定义了平均环化数（ANC）和环均分子量（MC）的概念，巧妙地推导出该参数与树状单元、线性单元、端基单元、数据分子量的内在联系，得到ANC和MC参数的定量表达式，结合定量核磁共振硅谱（29Si-NMR）和体积排除色谱-多角激光光散射联用仪（SEC-MALLS）实验，实现了ANC和MC参数的定量化表征和测定，在此基础上探讨了间隔基团对分子内环化形成的影响。ANC和MC参数的定量表达式基于应用广的A2+Bn聚合方法推出，具有较好的普适性，对于实现超支化拓扑高分子的精细合成，得到无缺陷的拓扑结构（Defect-Free）具有重要的指标化意义。