inventor/creator：张红霞，袁光萃，程贺，韩志超
Paten number/application number：201120105951.7
application/authorized announcemen date：2012-10-12
brief introduction：本发明涉及水平样品几何中子反射谱仪的中子光路的调整机构。所述调整机构包括入射升降机构和反射升降机构；沿着入射中子的光路方向，第一入射狭缝座、入射中子飞行管和第二入射狭缝座依次安装在入射升降机构上；沿着反射中子的光路方向，第一反射狭缝座、反射中子飞行管和第二反射狭缝座依次安装在反射升降机构上。本发明的调整机构能够高精度地调整所述狭缝和中子飞行管的位置，并能够实现高精度改变中子束的入射角和反射角，获取高分辨率的散射矢量，且中子束的入射角范围达-5°～9°，中子束的反射角范围达-5°～9°，使得测量的散射矢量范围加大。同时，在入反射角范围内，样品能够始终对准中子束。