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封装用铜框架表面化学组成和粘接强度
作者:卢晓林
关键字:框架,界面,粘接
论文来源:期刊
具体来源:电子元件与材料
发表时间:2015年

电子封装用铜框架表面采用不同温度处理,与电子封装用环氧材料复合制备用于拉伸测试的Tap pull 样品。XPS 分析表明,一般铜框架表面成分包括一价的氧化亚铜和二价的氢氧化铜等。175 ℃热处理120 min 可使表面的二价氧化铜质量分数达到73%,氧化铜和表面约20%的氢氧化铜一起显著提高界面的粘接性能。

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