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您现在的位置:中国聚合物网 > 全站 > 生理 缺陷 的搜索结果 共有结果129,当前从第1条到第10条,本次搜索耗时0.0937568
 
射频消融电生理导管
产品简介    微创医疗器械(上海)有限公司生产的可调弯温控型射频消融导管用于各类快速性心律失常的治疗。    可调弯温控型射频消融导管是具有可调弯头部的柔性绝缘导管,由对人体无毒的热塑性弹性材料和多个贵金属电极组成,设计用于进行心脏的电生理标测与消融。进行消融时,将导管与射频消融仪和弥散电极(参比电极)配合使用,较大末端头电极将射频(RF)电流从射频消融仪传递到所需的消融位置...
http://www.polymer.cn/PY10847/index
 
生理实验温度控制器
KWDY-III型生理实验温度控制器采用单片机控制,运用模糊控制算法,温度控制快速精确。所有控制参数均可自由设定,或由仪器完成自寻优参数整定,使用灵活方便,应用范围广。主要应用于生理学、病理学、药理学等实验。使用低压直流电源加热,对实验系统干扰极小,尤其适用于神经生物学实验中实验动物的保温和灌流系统的温度控制。 主要特点:使用低压直流电源加热,对实验系统干扰极小。采用智能PID算法,控制快速精确。所有控制参...
http://www.polymer.cn/PY13319/index
 
表面缺陷术语
本标准规定了有关表面缺陷的特性类型及其参数的术语和定义本标准适用于技术文件及科技出版物等
http://www.polymer.cn/Industry/bz50.html
 
表面缺陷自动检查系统
2002年与美商WINTRISS合作研发数字影像之分析系统,主要业务为高速表面缺陷检查系统,此套系统成功应用于各产业,客户实绩遍布海内外。检测材料有玻璃纤维布、含浸玻纤布、铜箔、无纺布、纸业、薄膜、玻璃、导光板、扩散板等各种连续生产的材料。OPSIS 7500 SMART CAMERA内建数据处理单元,使用FPGA处理大量影像数据。此型智能型线性相机可以在相机内分析处理缺陷。堪称目前最新式的系统架构。盛泰光电淤台湾和大陆均有专业自动化...
http://www.polymer.cn/trading/LWOC/companydetail
 
材料表面下缺陷的红外热波成像检测
关键字:缺陷标样 红外热波成像 无损检测 缺陷测量
在高纯石墨板上钻不同直径和深度的盲孔作为标样,模拟材料表面下的孔洞缺陷。利用红外热成像技术对标样材质热辐射值的敏感性,检测标样内部的缺陷信息,测量缺陷尺寸和位置。结果表明:红外热成像技术可以测出缺陷的形状、大小和深度。直径相同的盲孔,深度越深,其热辐射强度越低,热辐射能量与深度成反比;深度相同的盲孔,直径越大,热辐射强度越高,热辐射能量与面积成正比。缺陷直径增加,测量误差减小;缺陷深度增加,测量误...
http://www.polymer.cn/research/dis_info8013
 
材料表面下缺陷的红外热波成像检测
关键字:缺陷标样 红外热波成像 无损检测 缺陷测量
在高纯石墨板上钻不同直径和深度的盲孔作为标样,模拟材料表面下的孔洞缺陷。利用红外热成像技术对标样材质热辐射值的敏感性,检测标样内部的缺陷信息,测量缺陷尺寸和位置。结果表明:红外热成像技术可以测出缺陷的形状、大小和深度。直径相同的盲孔,深度越深,其热辐射强度越低,热辐射能量与深度成反比;深度相同的盲孔,直径越大,热辐射强度越高,热辐射能量与面积成正比。缺陷直径增加,测量误差减小;缺陷深度增加,测量误...
http://www.polymer.cn/research/dis_info8013
 
共轭聚合物中的结构缺陷研究
关键字:共轭聚合物,发光,缺陷结构,稳定性
共轭聚合物是由大量重复基元通过化学键连接的一维体系,即使在非常精细的合成条件下,少量的结构缺陷也是难免的。这些结构缺陷,可能作为电子或空穴的势阱影响材料的载流子迁移性质;也可能作为激发能量的捕获中心影响材料的发光性质;更重要的影响,缺陷可能是聚合物降解的诱导中心,影响材料的长期稳定性。而且由于不同有效共轭长度之间的能量传递,少量的缺陷在共轭聚合物中可能被放大很多倍,这一现象在薄膜中更加突出。因此对...
http://www.polymer.cn/research/ct_info677
 
氟化钙晶体的生长与缺陷研究
关键字:氟化钙 坩埚下降法 晶体生长 缺陷
采用真空坩埚下降法在石墨坩埚中生长了大尺寸CaF2晶体。通过高温氟化获得无水高纯原料,自发成核发育籽晶,以<2mm/h的生长速率,成功生长了直径170mm的CaF2晶体。研究了晶体的顶部析晶形貌、包裹体、解理等生长缺陷
http://www.polymer.cn/research/ct_info399
 
BiB3O6晶体的褐色缺陷
关键字:BiB3O6晶体 缺陷 同步辐射白光形貌术
利用同步辐射白光形貌术和透射电子显微镜,对BiB3O6晶体的缺陷进行研究。靠近籽晶部位,可以观察到包藏、位错和生长扇面边界,而远离籽晶的位置,没有发现任何微观的缺陷。通过实验观察,孪晶和生长扇面边界可能是导致晶体中褐色区域的形成原因。提出了消除缺陷的方法。
http://www.polymer.cn/research/ct_info390
 
0.92PZN-0.08PT晶体的缺陷与畴结构研究
关键字:弛豫型铁电晶体 缺陷 畴结构
应用环境扫描电子显微术(ESEM)、原子力扫描显微术(AFM)、同步辐射白光形貌术(SRWBT)等形貌成像技术研究了0.92PZN-0.08PT晶体的表面缺陷形态与铁电畴结构。通过对畴结构动态演化的同步辐射形貌观察,可揭示出该晶体的结构相变过程。
http://www.polymer.cn/research/ct_info258
 
 
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